国内刊号:11-2187/TH
国际刊号:0577-6686
发布日期:
作者:陈尧, 马啸啸, 卢超, 何喜, 池佳澎, 陈明, 熊政辉, 李秋锋
单位:1. 无损检测技术教育部重点实验室(南昌航空大学) 南昌 330063;2. 中国航发动力股份有限公司 西安 710021
关键词:双线阵纵波,全聚焦,相控阵,斜入射,成像;
基金:国家自然科学基金(62161028,12064001)、江西省自然科学基金(20232ACB214012)和研究生创新专项资金(YC2022-093)资助项目。
全聚焦成像因其具有高缺陷分辨率和检测灵敏度在超声无损检测领域应用广泛。为避免全聚焦成像中探头近场区影响和确保被检区域能够有效检测,进一步提高成像质量,提出一种斜入射双线阵相控阵探头全聚焦成像方法。将全聚焦成像与双线阵相控阵探头结合起来,通过改进全聚焦成像算法来实现缺陷的检测。利用不同屋顶角的双线阵相控阵探头对铝制和黄铜试块进行全矩阵采集,并进行全聚焦图像重建,将成像结果与单线阵斜入射全聚焦成像对比。结果表明,在黄铜试块和铝制试块的检测中,屋顶角为2.5°和5°双线阵斜入射缺陷成像相比于单线阵斜入射缺陷成像API值最大低0.8和0.6,SNR值最多高9.7 dB和11.1 dB,最大幅值高21.6 dB和23.9 dB。此斜入射双晶相控阵探头全聚焦成像方法更适用于针对不同区域选择合适屋顶角的楔块进行分层检测和粗晶材料的缺陷检测。
来源:2025年第20期
《机械工程学报》期刊编辑部