机械工程学报

作者：陈文华, 杨定, 陈哲文, 方英春, 钟立强

单位：浙江理工大学机电产品可靠性分析与测试国家地方联合工程研究中心 杭州 310018

关键词：高频电连接器,贮存环境,性能退化模型,插入损耗；

基金：国家自然科学基金资助项目(2021C01133)。

高频电连接器是型号系统中用于实现高频信号传输的基础元件，其接触性能的退化会造成信号衰减和反射等问题。以J599型高频电连接器为研究对象，分析接触件表面接触状态，建立插入损耗计算方法。考虑温度的影响，分析高频电连接器在贮存环境条件下的接触件表面氧化腐蚀物的增长规律，建立接触对的插入损耗退化轨迹模型。以温度为加速应力开展J599型高频电连接器的加速退化试验，结果表明，提高温度可加快接触性能退化，不同应力水平下的接触退化趋势与轨迹模型预测结果一致。建立基于阿伦尼斯模型的双加速方程，外推得到正常贮存环境下的接触性能退化趋势，可用于指导高频电连接器的可靠性设计、评估和使用维护。

来源：2025年第14期

《机械工程学报》期刊编辑部

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