机械工程学报

作者：钱萍, 刘鑫雨, 陈文华, 王哲, 郭明达

单位：1. 浙江理工大学机电产品可靠性分析与测试国家地方联合工程研究中心 杭州 310018;2. 北京控制与电子技术研究所 北京 100038

关键词：电连接器,密封失效,聚氨酯胶,可靠性建模；

基金：浙江省重点研发计划资助项目(2021C01133)。

针对长期贮存状态下导弹用电连接器的密封可靠性评估问题，通过对电连接器用聚氨酯胶密封件在贮存环境下的失效分析，确定了聚氨酯胶密封失效为内聚失效和边界失效共同引起的密封泄漏，揭示了聚氨酯胶在贮存环境下性能退化机制为环境温度和湿度引起聚氨酯胶内部的大分子基团氧化和水解；基于牛顿黏性定律和Roth密封理论，建立了结合内聚失效和边界破坏的气体泄漏数学表达式；基于分子动力学和质量作用定律，建立了聚氨酯胶密封件性能退化速率与温度、湿度之间的数学关系；以密封件气体泄漏率为性能指标，建立了融合温度和湿度的电连接器用聚氨酯胶密封件的性能退化轨迹模型；结合中心极限定理，建立了聚氨酯胶密封件贮存可靠性统计模型，可为评估电连接器用聚氨酯胶在贮存环境下的密封可靠性提供理论基础。

来源：2024年第20期

《机械工程学报》期刊编辑部

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