机械工程学报

北大核心,CA,INSPEC,JST,Pж(AJ)

国内刊号:11-2187/TH

国际刊号:0577-6686

机械工程学报杂志2020年第22期:基于自回归谱外推的全聚焦成像分辨力提升

发布日期:

作者:林莉, 史思琪, 孙旭, 马志远, 张晓峰, 刘丽丽, 金士杰

单位:1. 大连理工大学无损检测研究所 大连 116085;2. 核工业工程研究设计有限公司 北京 101300;3. 中国核工业二三建设有限公司 北京 101300

关键词:超声检测,全聚焦方法,自回归谱外推,成像分辨力;

基金:国家自然科学基金(51905079)和国家重点基础研究发展计划(973计划,2015CB057306)资助项目。

针对相邻缺陷全聚焦超声成像混叠问题,结合低阶、宽有效频带自回归谱外推方法,压缩超声波时域脉冲宽度,实现亚波长级全聚焦(Total focusing method,TFM)成像分辨力。建立碳钢试块模型,设置两个中心间距1.8 mm,直径1.3 mm圆孔,选用中心频率2.25 MHz,32阵元相控阵探头采集全矩阵数据。针对全矩阵数据,选择自回归阶数为2,信号频谱最大幅值下降14 dB为有效频带,建立自回归模型并外推有效频带外的高频与低频成分,随后对全矩阵数据进行延迟叠加处理和TFM成像。仿真结果表明,低阶、宽有效频带自回归谱外推处理方法具有较高的鲁棒性和准确性,TFM成像后可有效分离中心间距0.7λ(λ为超声波长)圆孔,保留缺陷横向位置信息的同时,定位误差不超过0.73%。对碳钢试块中相同位置及尺寸的圆孔进行试验验证,定位误差不超过1.06%,有效地提高TFM成像分辨力。

来源:2020年第22期

《机械工程学报》期刊编辑部

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